Universität der Bundeswehr München: AtheneForschung
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Document type:
Patent 
Patent number:
DE000019835266A1 
Inventor:
Sauter, Martin 
Patent applicant:
Siemens AG, 80333 München, DE 
Title:
Verfahren zur Erfassung der Betriebstemperatur von Halbleiterbauelementen 
Parallel title:
Operating temperature determining method for semiconductor components e.g. DMOS transistors 
Country of patent application:
Deutschland 
Application number:
19835266 
Date of patent application:
04.08.1998 
Date of publication:
17.02.2000 
Year:
1998 
Pages:
6 
Language:
Deutsch; Englisch 
IPC main class:
H01L 23/62 
Department:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik 
Institute:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik 
Chair:
Sauter, Martin 
Miscellaneous:
Verfahren zur Erfassung der Betriebstemperatur von Halbleiterbauelementen und dessen Verwendung