Morgenstern, Haiko; Groos, Gerhard; Schmidt, M.; Köhne, Heiko; John, Werner; Stecher, Matthias; Reichl, Herbert: Algorithmus zur automatischen Verifikation komplexer Mixed-Signal ICs gegenüber ESD-Belastungen , Berlin , VDE-Verlag . In: Fachbeiträge der 8. GMM / ITG-Diskussionssitzung Analog ’05 , 2005 . - S. 171-175
Konferenzbeitrag / Conference Paper