Morgenstern, Haiko; Groos, Gerhard; Schmidt, M.; Köhne, Heiko; John, Werner; Stecher, Matthias; Reichl, Herbert:
Algorithmus zur automatischen Verifikation komplexer Mixed-Signal ICs gegenüber ESD-Belastungen
, Berlin
, VDE-Verlag
. In: Fachbeiträge der 8. GMM / ITG-Diskussionssitzung Analog ’05 ,
2005
. - p. 171-175
Konferenzbeitrag / Conference Paper