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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
Charakterisierung des Entladeverhaltens von Single- und Dual-Interface Chipkarten
Titel Konferenzpublikation:
Tagungsband 12. ESD Forum 2011
Untertitel Konferenzpublikation:
München 6./7.12.2011
Konferenztitel:
Electro Static Discharge Forum (12., 2011, München)
Tagungsort:
München
Jahr der Konferenz:
2011
Datum Beginn der Konferenz:
06.12.2011
Datum Ende der Konferenz:
07.12.2011
Jahr:
2011
Seiten von - bis:
53-58
Sprache:
Deutsch
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Groos, Gerhard
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
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