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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
Experimental investigation on carrier dynamics at the thermal breakdown
Titel Konferenzpublikation:
International Conference on Physics of Semiconductor (ICPS), Wien: 24. - 28.07.2006
Untertitel Konferenzpublikation:
Book of Abstracts
Konferenztitel:
International Conference on Physics of Semiconductor (2006, Wien)
Tagungsort:
Wien
Jahr der Konferenz:
2006
Datum Beginn der Konferenz:
24.07.2006
Datum Ende der Konferenz:
28.07.2006
Jahr:
2006
Seiten von - bis:
366 – 367
Sprache:
Englisch
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Groos, Gerhard
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
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