@inproceedings{,
    author = {Morgenstern, Haiko; Groos, Gerhard; Schmidt, M.; Köhne, Heiko; John, Werner; Stecher, Matthias; Reichl, Herbert},
    title = {Algorithmus zur automatischen Verifikation komplexer Mixed-Signal ICs gegenüber ESD-Belastungen},
    editor = {},
    booktitle = {Fachbeiträge der 8. GMM / ITG-Diskussionssitzung Analog ’05  : 16.-18.3.05, Hannover},
    series = {GMM-Fachbericht},
    journal = {},
    address = {Berlin},
    publisher = {VDE-Verlag},
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    year = {2005},
    isbn = {3800728818},
    volume = {46},
    number =  {},
    pages = {171-175},
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    abstract = {},
    note = {},
    institution = {Universität der Bundeswehr München, Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik, ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik, Professur: Groos, Gerhard},
    
    
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