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Autoren:
Reggiani, Susanna; Gnani, Elena; Rudan, Massimo; Baccarani, Giorgio; Corvasce, Chiara; Barlini, Davide; Ciappa, Mauro; Fichtner, Wolfgang; Denison, Marie; Jensen, Nils; Groos, Gerhard; Stecher, Matthias 
Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper 
Titel:
Experimental extraction of impact-ionization coefficient at large operating temperatures 
Titel Konferenzpublikation:
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004 
Konferenztitel:
IEEE International Electron Devices Meeting (2004, San Francisco, CA) 
Tagungsort:
San Francisco, CA 
Jahr der Konferenz:
2004 
Datum Beginn der Konferenz:
13.12.2004 
Datum Ende der Konferenz:
15.12.2004 
Verlagsort:
Piscataway 
Verlag:
IEEE 
Jahr:
2004 
Seiten von - bis:
407-410 
Sprache:
Englisch 
ISBN:
0-7803-8684-1 
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik 
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik 
Professur:
Groos, Gerhard 
Open Access ja oder nein?:
Nein / No