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Document type:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Title:
Direct temperature measurement of integrated microelectronic devices by thermally induced leakage currents
Journal:
Microelectronics Reliability
Volume:
41
Issue:
1
Year:
2001
Pages from - to:
133-136
Language:
Englisch
Department:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institute:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Chair:
Sauter, Martin
Open Access yes or no?:
Nein / No
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