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Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Titel:
Effective and combined stressors from multi-dimensional mission profiles for semiconductor reliability
Zeitschrift:
Microelectronics Reliability
Heftnummer:
100-101
Jahr:
2019
Sprache:
Englisch
Stichwörter:
Automotive electronics ; Mission profile ; Semiconductor reliability ; Interdependent stressors ; Effective stress
URL zum Inhalt:
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Institut:
EIT 2 - Institut für Physik
Professur:
Hansch, Walter
Open Access ja oder nein?:
Ja / Yes
Art der OA-Lizenz:
CC BY NC ND 4.0
URL zur Lizenz:
BibTeX