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Authors:
Morgenstern, Haiko; Groos, Gerhard; Köhne, Heiko; Stecher, Matthias; John, Werner; Reichl, Herbert
Document type:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Title:
Algorithm for the automatic verification of complex mixed-signal ICs regarding ESD-stress
Title of conference publication:
2005 PhD Research in Microelectronics and Electronics
Conference title:
Research in Microelectronics and Electronics (2005, Lausanna)
Conference title:
PRIME 2005
Venue:
Lausanne
Year of conference:
2005
Date of conference beginning:
25.07.2005
Date of conference ending:
28.07.2005
Year:
2005
Pages from - to:
213-216
Language:
Englisch
ISBN:
0-7803-9345-7
DOI:
10.1109/RME.2005.1543042
URL:
https://doi.org/10.1109/RME.2005.1543042
Department:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institute:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Chair:
Groos, Gerhard
Open Access yes or no?:
Nein / No
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Occurrences:
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