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Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Titel:
Direct temperature measurement of integrated microelectronic devices by thermally induced leakage currents
Zeitschrift:
Microelectronics Reliability
Jahrgang:
41
Heftnummer:
1
Jahr:
2001
Seiten von - bis:
133-136
Sprache:
Englisch
URL zum Inhalt:
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Sauter, Martin
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
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