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Autoren:
Rudan, Masssimo; Reggiani, Susanna; Gnani, Elena; Baccarani, Giorgio; Corvasce, Chiara; Barlini, Davide; Ciappa, Mauro; Fichtner, Wolfgang; Denison, Marie; Jensen, Nils; Groos, Gerhard; Stecher, Matthias 
Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper 
Titel:
Experimental validation of a new analytical model for the position-dependent Hall voltage in semiconductor devices 
Titel Konferenzpublikation:
Proceedings of 35th European Solid-State Device Research Conference, 2005 
Untertitel Konferenzpublikation:
ESSDERC 2005 
Konferenztitel:
European Solid-State Device Research Conference (35., 2005, Grenoble) 
Konferenztitel:
35th ESSDERC 
Tagungsort:
Grenoble, France 
Jahr der Konferenz:
2005 
Datum Beginn der Konferenz:
16.09.2005 
Verlagsort:
Piscataway 
Verlag:
IEEE 
Jahr:
2005 
Seiten von - bis:
565-568 
Sprache:
Englisch 
ISBN:
0-7803-9203-5 
ISSN:
1930-8876 ; 2378-6558 
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik 
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik 
Professur:
Groos, Gerhard 
Open Access ja oder nein?:
Nein / No